QJ 1000.15-1986 机床夹具零件及部件工艺卡片 手柄
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来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 机床夹具零件及部件工艺卡片 手柄 |
| 发布日期： | 1986-06-21 |
| 实施日期： | 1986-10-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | 1995-04-21 |
| 出版日期： | |
| 页数： | 1页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 航空 航天 航空器与航天器零部件 管件 卡箍 密封件 航空器和航天器工程 航空航天用流体系统和零部件
基本信息
| 标准名称： | TJ8C型枕式糖果包装机 |
| 中标分类： |
轻工、文化与生活用品 >>
轻工机械 >>
其他轻工机械 |
| 替代情况： | 被QB/T 2248-96代替 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 1991-01-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 轻工 文化与生活用品 轻工机械 其他轻工机械
【英文标准名称】:StandardPracticeforScanningElectronMicroscopeBeamSizeCharacterization
【原文标准名称】:扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
【标准号】:ASTME986-2004
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E04.11
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;特性;金相学;电子显微镜;扫描电子显微镜;性能;显微镜;工艺
【英文主题词】:electronbeamsize;E766;graphitefiber;magnification;NIST-SRM2069B;resolution;SEM;SEMperformance;spotsize;waveform
【摘要】:ThetraditionalresolutiontestoftheSEMrequires,asafirststep,aphotomicrographofafineparticulatesampletakenatahighmagnification.Theoperatorisrequiredtomeasureadistanceonthephotomicrographbetweentwoadjacent,butseparateedges.Theseedgesareusuallylessthanonemillimetreapart.TheirimagequalityisoftenlessthanoptimumlimitedbytheS/Nratioofabeamwithsuchasmalldiameterandlowcurrent.Operatorjudgmentisdependentontheindividualacuityofthepersonmakingthemeasurementandcanvarysignificantly.UseofthispracticeresultsinSEMelectronbeamsizecharacterizationwhichissignificantlymorereproduciblethanthetraditionalresolutiontestusingafineparticulatesample.1.1Thispracticeprovidesareproduciblemeansbywhichoneaspectoftheperformanceofascanningelectronmicroscope(SEM)maybecharacterized.TheresolutionofanSEMdependsonmanyfactors,someofwhichareelectronbeamvoltageandcurrent,lensaberrations,contrastinthespecimen,andoperator-instrument-materialinteraction.However,theresolutionforanysetofconditionsislimitedbythesizeoftheelectronbeam.Thissizecanbequantifiedthroughthemeasurementofaneffectiveapparentedgesharpnessforanumberofmaterials,twoofwhicharesuggested.ThispracticerequiresanSEMwiththecapabilitytoperformline-scantraces,forexample,Y-deflectionwaveformgeneration,forthesuggestedmaterials.TherangeofSEMmagnificationatwhichthispracticeisofutilityisfrom1000to50000x.Highermagnificationsmaybeattempted,butdifficultyinmakingprecisemeasurementscanbeexpected.1.2Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:31_120;37_020
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:
